JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING

SCIE

雜志名稱：電子成像雜志

簡稱：J ELECTRON IMAGING

期刊ISSN：1017-9909

大類研究方向：工程技術

影響因子：0.924

數據庫類型：SCIE

是否OA：No

出版地：UNITED STATES

年文章數：224

小類研究方向：工程技術-工程：電子與電氣

審稿速度：約4.0個月

平均錄用比例：容易

官方網站：http://spie.org/x868.xml

投稿網址：http://jei.peerx-press.org/cgi-bin/main.plex

期刊服務稿件服務了解如何服務

投稿咨詢

填單可快速匹配SCI/SSCI/AHCI期刊 解答審稿周期、版面費、錄用率問題

JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING

英文簡介

The Journal of Electronic Imaging (JEI), copublished bimonthly with the Society for Imaging Science and Technology, publishes peer-reviewed papers that cover research and applications in all areas of electronic imaging science and technology.

JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING

中文簡介

《電子成像雜志》（JEI）與美國成像科學與技術學會每兩個月聯合出版一期，發表同行評議論文，涵蓋電子成像科學與技術各個領域的研究和應用。

JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING

中科院分區

大類學科	分區	小類學科	分區	Top期刊	綜述期刊
計算機科學	4區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學	4區 4區 4區	否	否

JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING

JCR分區

JCR分區等級	JCR所屬學科	分區	影響因子
Q4	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	Q4	0.829
	OPTICS	Q4
	IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY	Q4

JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING

中科院JCR分區歷年趨勢圖

JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING

影響因子

同類領域期刊推薦

精選同類領域期刊，熱門推薦輕松get～

ACM Transactions on Autonomous and Adaptive Systems

期刊ISSN：1556-4665

大類研究方向：工程技術

影響因子：

數據庫類型：SCIE

咨詢投稿
ACM Transactions on Architecture and Code Optimization

期刊ISSN：1544-3566

大類研究方向：工程技術

影響因子：1.444

數據庫類型：SCIE

咨詢投稿
ACM Transactions on Applied Perception

期刊ISSN：1544-3558

大類研究方向：工程技術

影響因子：

數據庫類型：SCIE

咨詢投稿
ACM Transactions on Algorithms

期刊ISSN：1549-6325

大類研究方向：工程技術

影響因子：

數據庫類型：SCIE

咨詢投稿
ACM SIGPLAN NOTICES

期刊ISSN：0362-1340

大類研究方向：工程技術

影響因子：

數據庫類型：

咨詢投稿
ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems

期刊ISSN：1550-4832

大類研究方向：工程技術

影響因子：2.013

數據庫類型：SCIE

咨詢投稿