METROLOGIA
SCI/SCIE
- 雜志名稱：計量學
- 簡稱：METROLOGIA
- 期刊ISSN：0026-1394
- 大類研究方向：工程技術
- 影響因子：3.447
- 數據庫類型：SCI/SCIE
- 是否OA：No
- 出版地：FRANCE
- 年文章數：100
- 小類研究方向：工程技術-儀器儀表
- 審稿速度：偏慢,4-8周
- 平均錄用比例：較易
官方網站：http://iopscience.iop.org/0026-1394/
投稿網址：http://mc04.manuscriptcentral.com/met-bipm
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METROLOGIA
英文簡介The leading international journal in pure and applied metrology, published by IOP Publishing on behalf of Bureau International des Poids et Mesures (BIPM).
METROLOGIA
中文簡介國際領先的純計量和應用計量雜志，由IOP出版社代表國際計量局(BIPM)出版。
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